Technote 136:

Measuring Low-Power ADCs with the APx555 ADC Test Option

ADC 테스트 옵션이 장착된 APx555B 오디오 분석기(고급 아날로그 출력, EAG 업그레이드가 포함된 기존 APx555)를

사용하여, 저전력 오디오 IC 장치를 테스트하는 방법입니다.

APx555 아날로그 고성능 사인파 발생기 하드웨어는 PDM 또는 TDM 출력과 같은 모든 디지털 오디오 출력 인터페이

스와 함께 사용할 수 있으며, ADC 테스트 옵션이 있는 APx555는 Cirrus Logic CS47L70 오디오 허브 IC와 같은 복잡한

코텍도 간단히 측정할 수 있습니다.

예를 들어 모바일 제품의 오디오 코덱 및 아날로그-디지털 변환기 칩셋이 있는데, 1/2 VDD로 설정된 DC 바이어스 전

압이 필요한 경우 단일 공급 전압에서 작동하는 장치를 테스트할 때 ADC 테스트를 사용합니다.

 DC 커플링 측정을 사용하면, 입력 AC 커플링 커패시터로는 측정할 수 없는 저주파수 동작을 포함한 아날로그 입력의

전체 작동 범위의 특성을 확인 할 수 있습니다. 차동을 위해 구성된 APx555 아날로그 출력에서 -60dBFS 사인파 

(1.0mVrms)의 낮은 왜곡으로 차동 입력을 구동하고 CCIR-2K 필터, 20Hz 고역 통과 및 20kHz 지역 통과 측정 필터를 

사용하여 THD+N 레벨을 측정할 수 있습니다.